多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對(duì)晶硅太陽(yáng)能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長(zhǎng)氦氖激光器，具有*的精確度和準(zhǔn)確度。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
■ 可以測(cè)量單晶電池片、多晶電池片
■ 可以測(cè)量拋光片，精確度和準(zhǔn)確度*
■ 可以測(cè)量粗糙表面的“絨片"
■ 適用于對(duì)太陽(yáng)能電池粗糙表面減反膜造成的低反射光強(qiáng)進(jìn)行測(cè)量
■ 可對(duì)太陽(yáng)能電池粗糙表面減反膜造成的退偏因數(shù)（偏振因數(shù)）進(jìn)行測(cè)量和評(píng)估，提高測(cè)量精度
■ 配置有高穩(wěn)定度補(bǔ)償器，提供最小的漂移值和最小的測(cè)量誤差
■ 配置有高精度的自動(dòng)光學(xué)對(duì)準(zhǔn)顯微鏡
■ 可進(jìn)行20°－90°范圍內(nèi)的多角度測(cè)量

測(cè)量特點(diǎn)：
■ 非破環(huán)性檢測(cè)
■ 樣品準(zhǔn)直簡(jiǎn)單方便
■ 測(cè)量速度快
■ 可變?nèi)肷浣欠秶鷮?br>■ 測(cè)量
■ 軟件分析功能強(qiáng)

技術(shù)指標(biāo)：
■ 光源：He-Ne激光器
■ 光斑直徑：1-2mm
■ 入射角范圍：20°到90°,5°/步
■ 精度：0.002°~ 0.02°
■ 膜厚精度：0.01mm，對(duì)100nmSiO2on Si
■ 折射率精度：0.0005，對(duì)100nmSiO2on Si
■ 激光光斑：直徑1mm
■ 激光波長(zhǎng)632.8 nm

典型客戶：
美國(guó)，歐洲，亞洲及國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能及半導(dǎo)體客戶。