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場發(fā)射透射電子顯微鏡

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更新時間：2023-03-31 16:15:22瀏覽次數(shù)：368次

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產(chǎn)品簡介

設備介紹TecnaiG2F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200kV場發(fā)射透射電子顯微鏡

詳細介紹

設備介紹

Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡是一個多功能、多用戶環(huán)境的200kV場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場、暗場像和髙分辨像，能進行選區(qū)電子衍射，能進行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點、線掃描的可以進行微區(qū)能譜分析。

儀器型號

FEI Tecnai G2 F20

技術(shù)參數(shù)

放大倍數(shù)105萬倍（1,050,000×）
點分辨率0.24nm加速電壓：200KV
極限（信息）分辨率0.14nm
STEM分辨率0.2nm
最小束斑尺寸0.2nm
物鏡球差系數(shù)Cs1.2nm
物鏡色差系數(shù)Cc1.2nm
Ⅹ射線能譜范圍B5~U92X
射線能譜儀能量分辨率136eV

案例展示

應用范圍

Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡可進行：（1）形貌分析，它獲得非晶材料的質(zhì)厚襯度像，多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像（原子像），通過形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，冋時還可通過明場像、暗場像對樣品進行進一步的表征；（2）結(jié)構(gòu)分析，觀察硏究材料結(jié)構(gòu)并對樣品進行納米尺度的微分析，如：髙分辨晶格條紋像，選取電子衍射等。（3）成分分析：小到幾個納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析，可對樣品進行能譜點測、能譜線掃，獲得樣品中的元素在一個點、一條線的分布情況。Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡廣泛應用于髙分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質(zhì)學、金屬、半導體材料等領域的科硏。

關(guān)鍵詞：透射電子顯微鏡電子顯微鏡能譜儀顯微鏡

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