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CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊
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- 上海魯碩實(shí)業(yè)有限公司
- 2018-02-28 06:06:35
- 上海市
- 998
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。
標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊。應(yīng)采用與被檢測工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。
對比試塊是指用于檢測校準(zhǔn)的試塊。對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來確定。
雙晶直探頭(CSII)
a、工件檢測距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII。
b、CSII試塊的形狀和尺寸應(yīng)該符合表中的規(guī)定
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