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李女士
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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>元器件及裝備失效分析>> 集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析 環(huán)境監(jiān)測與檢測
| 服務(wù)區(qū)域 | 全國 | 服務(wù)周期 | 常規(guī)5-7個工作日 |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS | 服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)范圍
廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)范圍：集成電路（微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA，驅(qū)動芯片、監(jiān)控芯片、電源類芯片等）
檢測標準
● GJB 597B-2012半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范
●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規(guī)范
● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造廠認證用半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范
● 行業(yè)規(guī)范：MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制標準：產(chǎn)品?冊、詳細規(guī)范、測試方案
檢測項目
| FT工程化 | 測試方案開發(fā)與測試平臺選型； 測試程序開發(fā)：V93000、Ultraflex、J750HD、STS系列、magnum等 測試硬件設(shè)計：loadboard、changkit、socket、PCB ?程化驗證與特性參數(shù)分析 |
| FT量產(chǎn) | ?次篩選 小批量量產(chǎn) 量產(chǎn)維護與良率提升 |
| 應(yīng)用驗證 | 項目驗收測試 板級應(yīng)用測試 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點，貫穿設(shè)計、制造、封裝測試以及應(yīng)用的全過程。測試在保證芯片質(zhì)量，產(chǎn)品交付、項目驗收及推向應(yīng)?具有重要作?。而芯片設(shè)計多樣化和定制化，對測試人才和技術(shù)經(jīng)驗要求明顯提升，如何實現(xiàn)快速?程化和量產(chǎn)將?臨極?挑戰(zhàn)。
我們的優(yōu)勢
廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)擁有一支經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開發(fā)團隊，可提供各類芯片的測試方案開發(fā)、測試硬件開發(fā)、測試程序開發(fā)與調(diào)試，小批量測試、應(yīng)?驗證。從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務(wù)。
環(huán)保在線