集成電路工程化量產測試,元器件失效分析 材料檢測服務 參考價：面議
集成電路工程化量產測試,元器件失效分析：集成電路工程化量產測試。集成電路測試卡位產業(yè)鏈關鍵節(jié)點，貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過程。
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試失效分析 材料檢測服務 參考價：面議
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試失效分析：超?規(guī)模集成電路測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監(jiān)控?產、保證質量、分析失效以及指導應?...
裝備定壽延壽失效分析專業(yè)檢測 安全檢測服務 參考價：面議
裝備定壽延壽失效分析專業(yè)檢測：廣電計量采用特定專業(yè)的檢測設備，采用加速試驗、?品分析、歷史數據收集等方式方法，輔以產品失效分析，即時發(fā)現貯存失效機理，并基于科學...
DPA破壞性物理元器件失效分析 安全檢測服務 參考價：面議
DPA破壞性物理元器件失效分析：廣電計量提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內的元器件破壞性物理分析(DPA)服務，其中針對先進半導體?藝，具備覆蓋7nm以下...
電纜可靠性測試與鑒定,設備專業(yè)失效分析 安全檢測服務 參考價：面議
電纜可靠性測試與鑒定,設備專業(yè)失效分析：廣電計量在電線電纜測試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測試與鑒定服務。
電源模塊老煉與測試驗證轉裝備失效分析 安全檢測服務 參考價：面議
電源模塊老煉與測試驗證轉裝備失效分析：廣電計量電源模塊老煉與測試驗證適應于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類電源產品的測試。電源模塊老煉試驗通過對電源模塊施加...
電子元器件篩選,失效分析 材料檢測服務 參考價：面議
電子元器件篩選,失效分析：廣電計量可滿足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求，提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時發(fā)現和剔除有缺陷、易發(fā)生早...
X-ray元器件無損檢測失效分析 材料檢測服務 參考價：面議
X-ray元器件無損檢測失效分析：X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可...
焊點質量檢測,專業(yè)元器件分析第三方 參考價：面議
焊點質量檢測,專業(yè)元器件分析第三方：廣電計量擁完整的剪切力拉力試驗設備、X射線透視（xray）試驗設備，并擁有完整的染色測試方法經驗與豐富的分析人才，能夠高效準...
離子清潔度測試 專業(yè)元器件失效分析 參考價：面議
離子清潔度測試 專業(yè)元器件失效分析：離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時造成離子殘留，會影響電子產品的功能性和可靠性。最常...
錫須現象檢測 材料裝備失效分析 參考價：面議
錫須現象檢測 材料裝備失效分析：錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電，以及及光學器件損壞等危害。廣電...
半導體元器件檢測 參考價：面議
半導體元器件失效分析檢測采用光學傳感器、紅外線探測器或顯微鏡等技術，通過觀察和分析半導體元器件表面的光學特征，來識別缺陷、污染或結構問題。
X-ray無損檢測,元器件失效根源分析 參考價：面議
X-ray無損檢測,元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA...
氟油液態(tài)溫度沖擊認證試驗 參考價：面議
廣電計量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認證試驗經驗，可開展氟油介質的液態(tài)溫沖試驗，轉換時間不超過10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、G...
錫須檢查,元器件及裝備失效分析 參考價：面議
錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電，以及及光學器件損壞等危害。廣電計量錫須檢查,元器件及裝備失效分...
離子清潔度測試,裝備失效分析檢驗 參考價：面議
離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時造成離子殘留，會影響電子產品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導致的問題分別是表面腐蝕...
焊點質量檢測,元器件失效測試 參考價：面議
廣電計量擁完整的剪切力拉力試驗設備、X射線透視（xray）試驗設備，并擁有完整的染色測試方法經驗與豐富的分析人才，能夠高效準確的提供焊點質量檢測,元器件失效測試...
電子元器件篩選,元件失效分析測試 參考價：面議
廣電計量可滿足各等級電子元器件篩選,元件失效分析測試需求，提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時發(fā)現和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提...
電源模塊老煉與測試驗證,失效分析機理檢驗 參考價：面議
廣電計量電源模塊老煉與測試驗證,失效分析機理檢驗適應于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類電源產品的測試。電源模塊老煉試驗通過對電源模塊施加電應力和熱應力，在短...
電纜可靠性測試,元器件失效分析 參考價：面議
廣電計量電纜可靠性測試,元器件失效分析服務在電線電纜測試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測試與鑒定服務。
破壞性物理分析,DPA測試 元器件失效分析 參考價：面議
廣電計量破壞性物理分析,DPA測試 元器件失效分析提供覆蓋被動元件、分立器件和集成電路在內的元器件破壞性物理分析(DPA)服務，其中針對先進半導體?藝，具備覆蓋...
裝備定壽延壽,元器件失效分析 參考價：面議
廣電計量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測設備，采用加速試驗、?品分析、歷史數據收集等方式方法，輔以產品失效分析，即時發(fā)現貯存失效機理，并基于科學的...
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試 環(huán)境監(jiān)測與檢測 參考價：面議
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監(jiān)控?產、保證質量、分析失效以及指導應?的重要?段。
集成電路工程化量產測試,失效機理分析 環(huán)境監(jiān)測與檢測 參考價：面議
廣電計量集成電路工程化量產測試,失效機理分析，擁有經驗豐富的IC測試技術開發(fā)團隊，可提供各類芯?的測試方案開發(fā),測試硬件開發(fā),測試程序開發(fā)與調試,小批量測試,應...
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