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X射線衍射儀（XRD）

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更新時(shí)間：2023-05-21 17:10:47瀏覽次數(shù)：594次

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X射線衍射儀（XRD）【型號(hào)】BrukerD8 ADVANCE【生產(chǎn)廠家】德國(guó)布魯克【性能指標(biāo)】1. Theta/theta 立式測(cè)角儀2. Theta角度范圍:-110～168°3. 角度精度:0.0001度 4. Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管 5. 探測(cè)器:林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列......

詳細(xì)介紹

【特性和優(yōu)點(diǎn)】

1. 布魯克公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對(duì)光。

2. 通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問題從此成為歷史！

3. 高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度！

4. *的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

【主要功能和應(yīng)用】

Bruker D8 Advance采用當(dāng)前的技術(shù)，能夠精確地對(duì)金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性、定量分析。儀器包括長(zhǎng)壽命X射線光管、高精度測(cè)角儀、能量色散探測(cè)器以及相關(guān)外圍設(shè)備。

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