南京勢(shì)創(chuàng)智能科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)介原硅片PL檢測(cè)模組可將原硅片中肉眼不可以見(jiàn)的缺陷檢測(cè)出，同時(shí)兼容多晶、單晶、類(lèi)單晶硅片
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-08-16 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)介：利用深度算法提取特征強(qiáng)，復(fù)雜場(chǎng)景適應(yīng)能力強(qiáng)的特點(diǎn)，結(jié)合傳統(tǒng)算法可解釋性強(qiáng)，方便用戶(hù)自動(dòng)調(diào)整等優(yōu)點(diǎn)，提供整體的解決方案
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