污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司
QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號ZEM-d
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式
更新時間：2023-11-15 12:47:13瀏覽次數(shù)：223次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。
日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測量系統(tǒng)ZEM系列銷售量超過300臺，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽，成為熱電材料領域應用廣泛的測試設備。2019年，在此前的成功基礎上，ADVANCE RIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設備ZEM-d。
與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。此外，ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴散率/導熱系數(shù)測量方向一致，其測量結(jié)果可廣泛應用于薄膜熱電材料的性能評價。
ZEM-d測量原理
現(xiàn)存測試方法 |
ZEM-d（厚度方向測量） |
電阻率測量原理
塞貝克系數(shù)測量原理
ZEM-d技術參數(shù)
測量參數(shù) 塞貝克系數(shù)，電阻率
溫度范圍 可達200℃（樣品表面）
樣品尺寸 截面：Φ20mm（Max），長度：0.01-20mm
測量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面
|
|
| |
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
環(huán)保在線 設計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
