晶閘管三項(xiàng)參數(shù)測定儀/晶閘管觸發(fā)電壓測定儀/晶閘管觸發(fā)電流測定儀/晶閘管維持電流測定儀
型號(hào)：SCFBC-031

產(chǎn)品簡介:
本儀器是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項(xiàng)參數(shù)的測試設(shè)備。適用于種反向阻斷晶閘管，逆導(dǎo)晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測試。本測試儀設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)合理，操作簡便。并具有數(shù)字顯示，自動(dòng)測試等功能。其技術(shù)指標(biāo)符合GB4024-83標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠和使用單位zui為的檢測設(shè)備。
技術(shù)參數(shù)
A（T2）、K（T1）間的斷態(tài)電壓：DC 12V（內(nèi)部限流電阻6.8Ω）。
觸發(fā)電流、維持電流測量范圍：1-450mA
觸發(fā)電壓測量范圍：0-7V
測量時(shí)間：小于2S
工作條件
電    源：AC 220V±10%  50HZ
溫    度：0-40℃
整機(jī)功耗：小于75VA
整機(jī)重量：約10Kg
整機(jī)尺寸：440×440×150mm
結(jié)構(gòu)特征
本儀器為箱式結(jié)構(gòu)，數(shù)字顯示，讀數(shù)直觀方便。前部是面板，裝有控制鍵、數(shù)字顯示表和接線端子等。后蓋板上裝有三芯電源插座和保險(xiǎn)絲盒（保險(xiǎn)絲為0./250V）。三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安和測試精度。
使用方法
“電源”開關(guān)
此開關(guān)擲向開時(shí)，內(nèi)藏指示燈亮，電源接通。
“A（T2）、K（T1）、G”接線端子
被測器件接線端子
“mA”電流顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)（維持）電流，單位毫安。
“V”電壓顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)電壓，單位伏特。
“IGⅠ+”觸發(fā)象限選擇鍵
按動(dòng)此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A（T2）接正、K（T1）接負(fù)、G接正，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
“IGⅠ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動(dòng)此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A（T2）接正、K（T1）接負(fù)、G接負(fù)，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
“IGⅢ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動(dòng)此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，主回路A（T2）接負(fù)、K（T1）接正、G接負(fù)，儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
“IH”功能選擇鍵
按動(dòng)此鍵，內(nèi)藏指示燈亮，“mA”電流顯示表顯示大于“450”的某一數(shù)值，儀器處于維持電流待測狀態(tài)。
“復(fù)位”鍵
按動(dòng)此鍵，在觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài)下，“mA”電流和“V”電壓顯示表顯示零。在維持電流待測狀態(tài)下，“mA”電流表顯示大于“450”的某一數(shù)值，“V”電壓表顯示的數(shù)值意義。
“測試”鍵
按動(dòng)此鍵，儀器開始根據(jù)功能選擇鍵所處的狀態(tài)，自動(dòng)進(jìn)行相應(yīng)的測試。測試過程中，測試鍵內(nèi)藏指示燈亮，測完后，指示燈自動(dòng)熄滅。
電源線連接
三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安和測試精度。
測試步驟
打開“電源”開關(guān)。
將被測器件接在“A、K、G”接線端子上。
選擇“IGⅠ+”、“IGⅠ-”、“IGⅢ-”觸發(fā)象限功能鍵或“IH”維持電流功能鍵。
測試普通、快速晶閘管選擇“IGⅠ+”，測試KS雙向晶閘管分別選擇“IGⅠ+”、“IG Ⅰ-”、“IG Ⅲ-”，測試維持電流選擇“IH”。
按動(dòng)“復(fù)位”鍵
如儀器處于觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài)，電流、電壓顯示表回零。如儀器處于維持電流待測狀態(tài)，電流顯示表顯示“450”mA左右的某一數(shù)值。
按動(dòng)“測試”鍵
測觸發(fā)參數(shù)時(shí)，電流表和電壓表顯示的數(shù)字由小到大變化，測完自動(dòng)停止變化；測維持電流時(shí)，電流表顯示數(shù)字由大到小變化，測完自動(dòng)停止。測試過程中“測試”鍵內(nèi)藏指示燈亮，測完后指示燈自動(dòng)熄滅。此時(shí)穩(wěn)定的顯示值即為測量讀數(shù)。（注：測維持電流時(shí)，電壓表顯示的數(shù)值意義。整個(gè)測試過程在2秒內(nèi)完成）。
換被測器件后，按4.3.3-4.3.5條操作即可。
注：對(duì)同一器件進(jìn)行多次重復(fù)測試，測試過程由于被測器件發(fā)熱，參數(shù)會(huì)有所變化，測試中應(yīng)注意。