快速溫變試驗箱 溫度變化曲線功能

型號：TEB-225PF

技術參數：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW

快速溫變試驗箱 溫度變化曲線功能

1. 精準溫度控制：能夠實現對溫度變化速率以及目標溫度的精確控制，確保電子元器件所經歷的溫度環(huán)境與預設的測試條件高度吻合，從而得出準確可靠的測試結果。

2. 均勻溫度場：箱內設計有合理的風道系統(tǒng)等結構，可使箱內溫度分布均勻，避免因局部溫度差異過大而影響電子元器件的測試準確性，保證每個元器件在同一測試批次中都處于相同的溫度環(huán)境下接受考驗。

3. 可靠的運行穩(wěn)定性：采用高品質的制冷、加熱、電氣等部件，并經過嚴格的組裝和調試工藝，確保試驗箱在長時間、高強度的測試工作中能夠穩(wěn)定運行，不會出現因設備故障而導致測試中斷或結果不準確的情況。