污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司
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北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司
產(chǎn)品型號(hào)BC-A
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-08-12 10:31:50瀏覽次數(shù)：223次
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塑料材料介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
塑料材料介電常數(shù)測(cè)試儀塑料材料介電常數(shù)測(cè)試儀
平衡測(cè)試功能變壓器參數(shù)測(cè)試功能測(cè)試速度:13ms/次電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能內(nèi)部自帶直流偏置源可外接大電流直流偏置源10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保存測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
選件，DCI與GPIB 只能2者選1通用技術(shù)參數(shù)工作溫度, 濕度：0℃－40℃, ≤ 90%RH
列表掃描10點(diǎn)列表掃描可對(duì)頻率、AC電壓/電流、內(nèi)/外DC偏置電壓/電流進(jìn)行掃描測(cè)試每掃描點(diǎn)可單獨(dú)分選內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器：100組LCRZ儀器設(shè)定文件，201次測(cè)試結(jié)果外部USB存儲(chǔ)器GIF圖像LCRZ儀器設(shè)定文件測(cè)試數(shù)據(jù)USB存儲(chǔ)器直接存儲(chǔ)
接口I/O接口：HANDLER，從儀器后面板輸出串行通訊接口：USB、RS232C并行通訊接口：GPIB接口（選件）網(wǎng)絡(luò)接口：LAN存儲(chǔ)器接口：USB HOST（前面板）偏置電流源控制接口DCI
技術(shù)參數(shù)顯示器:480×RGB×272，4.3寸TFT LCD顯示器。測(cè)試信號(hào)頻率：20Hz—1MHz分辨率：10mHz，4位頻率輸入準(zhǔn)確度：0.01%AC電平測(cè)試信號(hào)電壓范圍：10mV—2Vrms電壓分辨率:100μV，3位輸入準(zhǔn)確度ALC ON 10% x設(shè)定電壓 + 2mVALC OFF 6% x設(shè)定電壓 + 2mV測(cè)試信號(hào)電流范圍：100μA—20mA電流分辨率：1μA，3位輸入
性能特點(diǎn)4.3寸TFT液晶顯示中英文可選操作界面高1MHz的測(cè)試頻率，10mHz分辨率
GDAT-S 的短路校正功能能消除與被測(cè)元件相串聯(lián)的寄生阻抗（R, X）造成的誤差。
移動(dòng)光標(biāo)至短路設(shè)定域，屏幕軟鍵區(qū)顯示下列軟鍵。
短路校正功能操作步驟短路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻短路校正和對(duì)所設(shè)定的2 個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻短路校正。執(zhí)行下列操作步驟利用插入計(jì)算法對(duì)全頻率進(jìn)行短路校正。
按軟鍵 關(guān) ，關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測(cè)量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計(jì)算。短路校正
使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置電流可達(dá)120A。
一、 概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
二、 測(cè)試原理
采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
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