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產(chǎn)品概述

大氣顆粒物智能電鏡源解析服務(wù)，運(yùn)用的IntelliSEM EPAS智能掃描電鏡系統(tǒng)，基于SEM-EDX單顆粒分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒物的高效率與高精度分析。能細(xì)致描繪單個(gè)顆粒的物理化學(xué)特性，如形貌、粒度及化學(xué)成分，追蹤其自然或人為源頭。IntelliSEM EPAS通過智能化操作與算法優(yōu)化，大幅提升了分析速度與精度，輸出高清晰度圖像與能譜信息，全面掌握單顆粒的微觀結(jié)構(gòu)與化學(xué)組成，準(zhǔn)確判定顆粒物類別與來源歸屬，同時(shí)量化不同粒徑段的顆粒濃度、形態(tài)特點(diǎn)、化學(xué)成分占比及來源貢獻(xiàn)度，為依托大數(shù)據(jù)的顆粒物源解析研究奠定技術(shù)基石，賦能環(huán)境質(zhì)量監(jiān)控與污染防控策略制定。

系統(tǒng)組成

源解析流程

功能特點(diǎn)

● 智能化

全自動(dòng)無人值守，利用自動(dòng)進(jìn)樣器可實(shí)現(xiàn)24小時(shí)自動(dòng)分析

現(xiàn)實(shí)顆粒的自動(dòng)識(shí)別定位，達(dá)到幾千個(gè)顆粒物/小時(shí)的分析速度

采用雙能譜配置，可檢測到元素周期表中所有的元素信息（除氫氦鋰鈹四種元素外）

● 可視化

可視化用戶界面，快速檢索每個(gè)顆粒的形貌和化學(xué)組分信息

可獲取所有顆粒物的高清微觀圖像

● 精細(xì)化

采用高分辨率電鏡，最小可分析到10nm的顆粒物

獲取所有單顆粒的多種直徑、橫縱比、圓形度、投影面積、投影周長、伸長度等形貌參數(shù)

對(duì)所有顆粒物進(jìn)行快速分類

所需樣品量少，單張膜片即可進(jìn)行多粒徑段顆粒來源解析

實(shí)現(xiàn)特定環(huán)境中重金屬的重點(diǎn)分析（可自定義不同粒徑區(qū)域）

可根據(jù)用戶需求自定義源解析規(guī)則

● 網(wǎng)格化

被動(dòng)式采樣器無需電源和動(dòng)力，安裝簡單、可實(shí)現(xiàn)大規(guī)模的網(wǎng)格化布點(diǎn)（主動(dòng)式采樣器補(bǔ)充加密觀測及污染源捕捉）

應(yīng)用領(lǐng)域

● 單顆粒來源識(shí)別及定制化深度分析

通過自定義分類規(guī)則或機(jī)器學(xué)習(xí)算法識(shí)別采樣膜上單個(gè)顆粒來源。根據(jù)需求對(duì)代表性顆粒進(jìn)行全貌的單顆粒元素分布分析，探究顆粒物的元素分布和混合狀態(tài)。大量的單顆粒形貌和成分?jǐn)?shù)據(jù)可為深入分析不同源類顆粒物特征和大氣化學(xué)轉(zhuǎn)化過程提供依據(jù)

● 精細(xì)化、多維度顆粒物來源解析

分析單張采樣膜進(jìn)行來源判別，將單顆粒形貌信息和粒徑信息納入源解析過程，對(duì)共線性源類進(jìn)行精細(xì)化識(shí)別，如建筑揚(yáng)塵和土壤揚(yáng)塵等?？啥ㄖ迫我涣絽^(qū)段顆粒物來源解析，分析不同源類的粒徑分布及貢獻(xiàn)占比

● 污染源風(fēng)險(xiǎn)評(píng)價(jià)參考依據(jù)

獲取單個(gè)顆粒的元素相對(duì)含量百分比，基于單個(gè)顆粒物元素含量可分析不同粒徑段、不同來源顆粒物元素豐度情況，為顆粒物中重金屬毒性風(fēng)險(xiǎn)評(píng)價(jià)提供參考

● 顆粒物的形貌及成分可直觀解析各類污染源

分析單顆粒物元素和形貌，可區(qū)分同一元素組成的近似顆粒的不同來源，例如可以將碳質(zhì)氣溶膠的來源（燃燒排放）進(jìn)一步區(qū)分為生物質(zhì)燃燒排放、燃煤燃燒排放和柴油車燃燒排放，實(shí)現(xiàn)更為精準(zhǔn)的來源識(shí)別，為政策管理提供更為精確的管控依據(jù)