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AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技*的技術(shù)，使其...

AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏*的技術(shù)，使其性能無可挑剔。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨...

AT811精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路，大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供...

AT816A精密LCR 數(shù)字電橋 全自動(dòng)測(cè)試、無需人為參與，您只需插入L、C或是R，儀器自動(dòng)為您配置Z佳測(cè)試條件，這些包括：自動(dòng)LCR選擇，自動(dòng)量程選擇和等效方...

AT2816A為連續(xù)頻率，頻率步進(jìn)0.001Hz。采用了真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使用的儀器實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) ATOS_V4，菜單軟...

AT2816B提供33個(gè)基本頻率，覆蓋從50Hz～200kHz；0.01V至2.00V的任意電平；Z大256次平均，14檔分選結(jié)果輸出。

AT817 內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

AT2817內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

AT2817A 內(nèi)建50Hz~100kHz 16點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.01V~2.00V任意測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。

AT2818*滿足現(xiàn)有條件測(cè)試：10Hz～300kHz，連續(xù)頻率，0.001Hz分辨率，Z高到300kHz的測(cè)試頻率，0.01V至2.00V的任意電平，內(nèi)置和外...

AT820 LCR數(shù)字電橋 100Hz，120Hz和1kHz三檔測(cè)試頻率，可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。較強(qiáng)抗沖擊能力。

AT821 LCR數(shù)字電橋：100Hz，120Hz，1kHz和10kHz四檔測(cè)試頻率，可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。內(nèi)建比較器，使其適合元件分...

精密LCR數(shù)字電橋AT2817內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。使用安柏實(shí)...