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產(chǎn)品展示
TRF5000測(cè)鍍層X熒光光譜儀
- 公司名稱：
- 更新時(shí)間：
- 所 在 地：
- 生產(chǎn)地址：
- 瀏覽次數(shù)：
- 上海奧析科學(xué)儀器有限公司
- 2024-07-29 08:54:36
- 上海市
- 144
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
測(cè)鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
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郵編：310012
聯(lián)系人：采購(gòu)部
留言：在線留言
商鋪：http://www.niunang.cn/st79042/
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