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AT5112 PTC電阻測(cè)試儀/常州安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)AT5112 PTC電阻測(cè)試儀

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產(chǎn)品簡介

AT5112 PTC電阻測(cè)試儀/常州安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀全國

詳細(xì)介紹

AT5112 PTC電阻測(cè)試儀/常州安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀

AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。

AT5112 PTC 電阻測(cè)試儀/安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格

●	測(cè)試準(zhǔn)確度：0.3%
●	測(cè)試范圍：0~100Ω
●	測(cè)試電流：1mA
●	雙路同時(shí)測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè)

性能特征

●	內(nèi)置比較器設(shè)置
●	可選Handler接口

應(yīng)用

●	PTC熱敏電阻的測(cè)試 AT5112 PTC 電阻測(cè)試儀/常州安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀 AT5112 PTC 電阻測(cè)試儀/常州安柏?cái)?shù)字電橋 LCR測(cè)試儀