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束蘊儀器（上海）有限公司


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臺式PID潛在誘導退化測試儀

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參  考  價:18
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產品型號

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質

    0

  • 所在地

    上海市

規(guī)格

一套 18元 1件 可售

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更新時間：2020-08-21 16:29:49瀏覽次數：379次

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聯(lián)系人：丁琳 （市場）

產品簡介

臺式PID潛在誘導退化測試儀用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

詳細介紹

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

 

    易PID和抗PID的太陽能電池          重現性

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

標準：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016

可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

 

 

關鍵詞：電池

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