垂直量程 | 1mm |
垂直分辨率 | 0.1nm |
單次掃描長度 | 55mm ( 200mm) |
樣品高度 | 50mm |
樣品臺尺寸 | 100mmX100mm (手動) 150mmX150mm(自動) |
樣品臺旋轉 | 360 度連續(xù)旋轉 |
臺階測試精度 | <5Å( 1sigma on 1μm step) |
當前位置:亞科電子(包括亞科電子(香港)有限公司、北京亞科晨旭科技有限公司等)>>臺階儀>> Bruker DektakXT臺階儀
垂直量程 | 1mm |
垂直分辨率 | 0.1nm |
單次掃描長度 | 55mm ( 200mm) |
樣品高度 | 50mm |
樣品臺尺寸 | 100mmX100mm (手動) 150mmX150mm(自動) |
樣品臺旋轉 | 360 度連續(xù)旋轉 |
臺階測試精度 | <5Å( 1sigma on 1μm step) |
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