產(chǎn)品概述：
開(kāi)發(fā)新一代產(chǎn)品需要新型材料科學(xué)工具來(lái)給研究者提供所需要的表征數(shù)據(jù)的能力，以確切地了解材料間的相互關(guān)系以及什么特性對(duì)材料的功能比較重要。這意味著需要開(kāi)發(fā)新的方法，例如三維數(shù)據(jù)采集，去深入地探索材料的特性。掃描電子顯微鏡能夠滿(mǎn)足大多數(shù)傳統(tǒng)研究的要求，但探索與開(kāi)發(fā)新一代的材料需要同時(shí)具備掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)功能 。在各種各樣的SEM/FIB雙束系統(tǒng)中，Versa 3D是一款能提供更多的功能的儀器，可以滿(mǎn)足*材料的分析需求。
如果您已經(jīng)對(duì)掃描電鏡非常熟悉，那么運(yùn)用Versa 3D的雙束技術(shù)可以使您在同一個(gè)操作平臺(tái)上得到更多的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，而且您在實(shí)驗(yàn)方案的設(shè)計(jì)上可以更少地受到約束。

主要優(yōu)點(diǎn)：
•運(yùn)用聚焦離子束技術(shù)將樣品表面以下的特征，層狀結(jié)構(gòu)或缺陷暴露出來(lái)，然后由掃描電鏡獲取高質(zhì)量的截面圖像。
•運(yùn)用聚焦離子束技術(shù)收集新信息（例如通道襯度）以及對(duì)次表層進(jìn)行解析，然后使用掃描電鏡來(lái)獲取成分，密度或分析信息。這些信息甚至在*不導(dǎo)電的樣品上也可以獲得。
•為原子級(jí)分辨率的透射電鏡定點(diǎn)制備TEM樣品薄片。
•在環(huán)境掃描電鏡模式使用冷臺(tái)或熱臺(tái)，將掃描電鏡的成像擴(kuò)展到原始的含水樣品成像或進(jìn)行原位動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)。
新技術(shù)擴(kuò)展了Versa 3D能夠適應(yīng)的樣品和應(yīng)用的范圍：
•運(yùn)用荷電平衡技術(shù)，如低真空掃描電鏡模式，Smart-SCAN 及 漂移抑制加工，對(duì)不導(dǎo)電的樣品上進(jìn)行表征，以及從易于積累荷電和漂移的材料上制備樣品。
•增加選配的UC單色的電子源允許用低電壓和高分辨SEM在電子束敏感樣品或者難于觀察的材料上，而不放棄優(yōu)秀的分析性能（只在Versa 3D高真空）。