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更新時(shí)間：2022-11-25 14:26:38瀏覽次數(shù)：250次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
簡介：
•桌面型精巧款式
•采集數(shù)據(jù)，自動(dòng)測量，分析和數(shù)據(jù)后處理，一氣呵成的完備方案
•樣品尺寸:
•150 mm x 150 mm x 92 mm
•承載 4.5 kg
•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有視場下
•橫向分辨:
•0.3µm (±150nm)
•AcuityXR 0.15µm (±75nm)
•基于白光干涉原理，結(jié)果可溯源
白光干涉技術(shù)內(nèi)在優(yōu)勢
垂直分辨率
普適性，易于操作、各種樣品類型與表面
計(jì)量
硬件，為性能所做優(yōu)化
物鏡，為挑戰(zhàn)性測量專門設(shè)計(jì)
完備的自動(dòng)化測量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置
的縫合功能
針對(duì)不同應(yīng)用下，提升效率
ContourX
關(guān)鍵好處
高質(zhì)量計(jì)量
作為桌面型輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀
專為您的應(yīng)用服務(wù)
•從每日測試挑戰(zhàn)到滿足嚴(yán)苛要求，可靠的表面計(jì)量
•不同應(yīng)用示例：展示布魯克白光干涉獨(dú)到之處
•薄膜與鍍層
•精密加工
•材料研究
•MEMS與傳感器
•光學(xué)元器件
•半導(dǎo)體
•摩擦學(xué)
薄膜與鍍層：表面粗糙度與厚度，的準(zhǔn)確性
表面粗糙度與平整度
滿足您的嚴(yán)苛要求
材料研究：表面紋理，揭示最微小的細(xì)節(jié)
MEMS和傳感器
關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制，匹配您的所有需求
關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制，完備的自動(dòng)化組件
光學(xué)元器件：全頻譜密度的粗糙度信息
光柵與光學(xué)器件，亞微米計(jì)量
微型光學(xué)形貌表征
缺陷偵測
半導(dǎo)體：質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā)，匹配您的應(yīng)用需求
質(zhì)量監(jiān)控與工藝開發(fā)，完備的軟件平臺(tái)
關(guān)鍵尺寸– 質(zhì)量控制
完備的自動(dòng)化組件
摩擦學(xué)
表面紋理與磨損體積（速率）
滿足您對(duì)準(zhǔn)確性的需求
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