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北京中海遠創(chuàng)材料科技有限公司
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產品描述常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行測試，還提供翻轉機制，可定位樣品進行成像
常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行測試，還提供翻轉機制，可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測試方法。InForce50驅動器在真空和常壓條件下表現同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數據進行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實現從FIB到壓痕測試的無縫過渡。
· InForce 50驅動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭
· InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數
· 用于樣本定位的XYZ移動系統
· SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數據進行同步
· 的軟件集成壓頭校準系統，可實現快速，準確的壓頭校準
· 與Windows®10兼容的InView控制和數據查看軟件以及協助用戶設計實驗的方法開發(fā)功能
· 硬度和模量測量（Oliver-Pharr）
· 連續(xù)剛度測量
· 高速材料性質分布圖
· ISO 14577硬度測試
· 聚合物的納米動態(tài)力學分析（DMA）
· 定量刮擦和磨損測試
· 大學、研究實驗室和研究所
· 支柱和微球制造
· MEMS（微機電系統）
· 材料制造（結構壓縮/斷裂測試）
· 電池和元件制造
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