測試速度超快的微納米力學(xué)測試平臺
Nano Indenter® G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米級測量而設(shè)計。該系統(tǒng)是一個可升級,可擴(kuò)展且經(jīng)過生產(chǎn)驗證的平臺,全自動硬度測量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實驗室環(huán)境。
產(chǎn)品描述
Nano Indenter® G200系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確,靈活,使用方便的納米級機(jī)械測試儀器。G200測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。該系統(tǒng)還可以測量聚合物,凝膠和生物組織的復(fù)數(shù)模量以及薄金屬膜的蠕變響應(yīng)(應(yīng)變率靈敏度)。模塊化選項可適用于各種應(yīng)用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴(kuò)展負(fù)載容量高達(dá)10N和自定義測試。
主要功能
電磁驅(qū)動可實現(xiàn)高動態(tài)范圍下力和位移測量
用于成像劃痕,高溫納米壓痕測量和動態(tài)測試的模塊化選項
直觀的界面,用于快速測試設(shè)置;只需幾個鼠標(biāo)點(diǎn)擊即可更改測試參數(shù)
實時實驗控制,簡便的測試協(xié)議開發(fā)和精確的熱漂移補(bǔ)償
屢獲殊榮的高速“快速測試"選項,用于測量硬度和模量
多功能成像功能,測量掃描和流程化測試方法,幫助快速得到結(jié)果
簡單快捷地確定壓頭面積函數(shù)和載荷框架剛度
主要應(yīng)用
高速硬度和模量測量
界面附著力測量
斷裂韌性測量
粘彈性測量
掃描探針顯微鏡(3D成像)
耐磨損和耐刮擦
高溫納米壓痕
工業(yè)應(yīng)用
主要性能
增強(qiáng)的載荷加載系統(tǒng)
增強(qiáng)的納米劃痕測試
更強(qiáng)化的微摩擦磨損測試功能
粘彈性材料性能測量功能-DMA 功能
增強(qiáng)的恒應(yīng)變速率測試功能
的連續(xù)剛度測量功能
增強(qiáng)的原位納米力學(xué)測試功能
Survey Scanning圖像功能
超高精度成像定位功能
的接觸剛度成像功能
的革命性的超快壓痕技術(shù)
從MTS公司到安捷倫公司再到KLA公司
– KLA是較大的半導(dǎo)體在線測量領(lǐng)域的公司。
– 在 1983 年發(fā)明了一臺的納米壓痕儀。
– 我們擁有世界上及國內(nèi)相當(dāng)大的納米壓痕儀客戶群。
– 是符合 ISO-14577、ASTM-E2546-07、GB/T22458-2008、GB/25898-2010 等國家標(biāo)準(zhǔn)的納米壓痕儀供貨商。
– 大且靈活的加載范圍——適用于各種材料和硬質(zhì)薄膜及涂層檢測。
– 大的壓頭移動范圍——適用于各種較厚薄膜和涂層、粗糙度較大的樣品。
– 的位移探測精度。
– 的技術(shù)——連續(xù)剛度測量模塊。
– 的恒應(yīng)變加載模式。
– 的金剛石壓頭制造工藝。
– 整個測量過程中熱飄移效應(yīng)實時扣除——KLA的技術(shù)。
– 功能強(qiáng)大的 NanoSuite 6 控制軟件——行業(yè)中的較為強(qiáng)大的控制軟件。
– 真正的原位成像和原位納米力學(xué)測試功能。
– 性能*的防震抗噪系統(tǒng)。
– 全自動控制的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)。
– KLA在中國設(shè)置了當(dāng)?shù)氐木S修和培訓(xùn)中心。
– 強(qiáng)大的技術(shù)團(tuán)隊。
– 擁有國內(nèi)領(lǐng)域較大的客戶群。