詳細(xì)內(nèi)容
s-SNOM技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(AFM)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強(qiáng)樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號(hào)可以在遠(yuǎn)場(chǎng)被檢測(cè)到。而這些散射信號(hào)攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過適當(dāng)?shù)哪P停@些測(cè)量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學(xué)相位與波長還提供了個(gè)與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息。
瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡建立在基于具有先地位的納米光學(xué)表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎(chǔ)之上。s-SNOM設(shè)計(jì)具有不錯(cuò)的性能,高度集成,全面自動(dòng)化,使用靈活,為研究生產(chǎn)力和易用性設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。
應(yīng)用:
由于瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜譜圖的可靠性和可重復(fù)性,s-SNOM業(yè)已成為納米光學(xué)域熱點(diǎn)研究方向的推薦科研設(shè)備,廣泛適用于各種無機(jī)物和有機(jī)物,如表面等離子體、納米天線、2D材料(石墨烯,BN),納米結(jié)構(gòu),半導(dǎo)體,絕緣體,生命科學(xué),高分子材料等,在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。
石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像(上—相位圖像三維視圖;左—相位和SPP駐波線橫截面;右—s-SNOM振幅圖)
光學(xué)近場(chǎng)顯微鏡的光譜和成像。(上—波長相關(guān)的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì);下左—共振(1659cm-1)的s-SNOM相位圖像;下右—非共振(1605cm-1)的s-SNOM相位圖像)
s-SNOM圖像顯示了棒狀天線上的偶子散射。(上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像;下左—AFM圖像;下右—s-SNOM圖像)
紫外膜的s-SNOM測(cè)量揭示了蛋白質(zhì)在脂質(zhì)膜內(nèi)的分布。(上—AFM高度圖;下左—當(dāng)紅外激光源調(diào)諧到酰胺I吸收帶產(chǎn)生共振時(shí)(1667cm-1)s-SNOM相位圖像;下右—非共振時(shí)(1618cm-1)s-SNOM相位圖像)
產(chǎn)品特點(diǎn):
10nm空間分辨率近場(chǎng)成像和光譜;
利的快速成像和采譜技術(shù),10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像;
利背景壓制技術(shù)和高效光學(xué)信號(hào)收集技術(shù),確保在10nm空間分辨率下仍然保持高的信噪比;
預(yù)先校準(zhǔn)光路,操作其簡便;
模塊化設(shè)計(jì),可拓展性強(qiáng);
產(chǎn)品參數(shù):
光學(xué)分辨率:1.5um
XY掃描范圍:80x80um
成像波段:900~2000cm-1,2235~3600cm-1
空間分辨率:10~100nm產(chǎn)品參數(shù):
光學(xué)分辨率:1.5um
XY掃描范圍:80x80um
成像波段:900~2000cm-1,2235~3600cm-1
空間分辨率:10~100nm