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neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了化的散射式核心設計技術，極大的提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。由于其高度的可靠性和可重復性，neaSNOM業(yè)已成為納米光學領域熱點研究方向的科研設備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方......
neaSNOM近場光學顯微鏡技術特點和優(yōu)勢：
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產品
? 保護的散射式近場光學測量技術
—的10 nm空間分辨率
? 的高階解調背景壓縮技術
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持的信噪比
? 保護的干涉式近場信號探測單元
? 的贗外差干涉式探測技術
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
? 保護的反射式光學系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲
? 高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學測量
? 雙光束設計
—的光學接入角：水平方向180°，垂直方向60°
? 操作和樣品準備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準備過程
neaSNOM近場光學顯微鏡重要應用領域：
? 表面等離激元 ? 聲子極化激元 ? 石墨烯等離基元 ? 化學過程 | ? 光電流/太赫茲 ? 石墨烯 ? 六方氮化硼 ? 高分子/生物材料 |
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