當前位置：東莞市瑞高電子科技有限公司>>臺階儀/膜厚儀/薄膜測厚儀>>KOSAKA 臺階儀 | 薄膜測厚儀 | 微細形狀測定機ET200A

KOSAKA 臺階儀 | 薄膜測厚儀 | 微細形狀測定機ET200A

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：柯貴平 查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-01-23 08:40:30瀏覽次數(shù)：277次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  臺階儀/膜厚儀/薄膜測厚儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

東莞市瑞高電子科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：18條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：柯貴平

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品概述：●ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定

詳細介紹

產(chǎn)品概述：
● ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。
● ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測量過程及微小的測定力可對應軟質(zhì)樣品表面。
● 該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現(xiàn)性高。

未找到相應參數(shù)組，請于后臺屬性模板中添加

臺階儀ET200A產(chǎn)品參數(shù)

試片尺寸	Φ200mm×高度50mm
重現(xiàn)性	1σ ≤ 1nm
測定范圍	Z:600um X:100mm
分解能	Z:0.1nm X:0.1um
測定力	10UN~500UN (1mg-50mg)
載物臺	Φ160mm, 手動360度旋轉(zhuǎn)

ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應用。ET200A 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準確的定位測試區(qū)域。