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李女士
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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>解決方案>> 第三代半導體可靠性驗證與評價
| 服務區(qū)域 | 全國 | 服務周期 | 常規(guī)5-7個工作日 |
|---|---|---|---|
| 服務資質(zhì) | CMA/CNAS | 服務費用 | 視具體項目而定 |
服務背景
在第三代半導體的代表中，碳化硅（SiC）、氮化鎵（GaN）目前是技術較為成熟的材料，*的性能使其在新一代運動通信、新能源并網(wǎng)、智能電網(wǎng)、高速軌道交通、新能源汽車、消費類電子等領域具有廣泛的應用前景。SiC、GaN器件憑借杰出的系統(tǒng)性能，給許多應用帶來更高的效率和功率密度，以及更低的系統(tǒng)成本。然而，與所有的新技術一樣，SiC、GaN器件必須全面嚴格地遵循技術開發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量檢驗程序。廣電計量特意推出第三代半導體可靠性驗證與評價服務，助力企業(yè)產(chǎn)品高效發(fā)展。
服務內(nèi)容
廣電計量圍繞JEDEC系列標準，從三方面進行技術能力布局：
1、識別潛在的失效模式和失效機制，并根據(jù)目標壽命設計確認測試；
2、將樣品置于適當?shù)目煽啃詰ο?，以加速激發(fā)潛在的失效機制；
3、完成加速應力后，對樣品進行測試，以確定其性能是否仍可接受。
針對SiC分立器件和模塊，廣電計量參照JEDEC、AECQ101及AQG324標準進行檢測驗證，能力不僅覆蓋用于驗證傳統(tǒng)Si器件長期穩(wěn)定性的所有方法，還開發(fā)了針對SiC器件不同運行模式的特定試驗，見表1。
表1 SiC器件特定可靠性試驗
| 試驗 | 試驗條件 |
| HV-H3TRB | VDS=0.8VDSmax，Ta=85°C, RH=85%，t≥1000h |
| HTRB和負電壓 | VDS=VDSmax，Tvj=175°C，VG =-10 V，t≥1000h |
| 動態(tài)H3TRB | VDS>0.5VDSmax，dVDS/dt(at DUT)>30V/ns, 15kHz≤f≤25 kHz,Ta=85°C, RH = 85%，t≥1000h |
| 動態(tài)反向偏壓（DRB） | VDS≥0.8VDSmax，dVDS/dt (at DUT)=50V/ns，f ≥25 kHz，Ta= 25°C，t≥1000h |
| 動態(tài)柵偏（DGS） | 次數(shù)≥1011，dVGS/dt =1 V/ns，f ≥50 kHz，VGSoff= VGSmin和VGSon= VGSmax，Ta=25°C |
| HTFB | SiC體二極管雙極退化 |
CaN器件的質(zhì)量及可靠性驗證以JEDEC和AECQ101為基準進行，見表2，并針對GaN器件和Si基器件之間的差異實施表3試驗。
表2 通用可靠性試驗
| 試驗 | 試驗條件 |
| HTRB | Tj=150°C， VDS=0.8 VDSmax，t≥1000h |
| HTGB | Tj=150°C，VGS=±100%，t≥1000h |
| H3TRB | Tj=85°C，RH=85%，VDS=0.8 VDSmax，t≥1000h |
| TC | -40°C to +125°C，≥1000cycles |
| HTS | Ta=150°C，t≥1000h |
| IOL | DTj=100°C，2min on，2min off，≥5k cycles |
| ESD | HBM+CDM |
| MSL3 | Ta=60°C，RH=60%，t=40h，3x reflow cycles |
表3 CaN器件特定試驗
| 試驗 | 試驗標準 |
| 開關加速耐久試驗 | JEP122,JEP180 |
| 動態(tài)高溫工作壽命 | |
| 動態(tài)Rdon測試 | JEP173 |
| 持續(xù)開關測試 | JEP182 |
廣電計量特意推出第三代半導體可靠性驗證與評價服務，助力企業(yè)產(chǎn)品高效發(fā)展。
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