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深圳市欣同達科技有限公司
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更新時間：2023-05-18 17:09:27瀏覽次數(shù)：536次
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DDR4-16位內(nèi)存條測試座，導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)DDR內(nèi)存條測試座適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測試用于芯片的快速篩選，驗證，測試，采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.測試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)探針可更換，維修方便，成本低
適用于DDR3 DDR4 DDR5 用于芯片的快速驗證，測試. 適用于手測 有探針和導(dǎo)電膠2種導(dǎo)電結(jié)構(gòu)選擇 導(dǎo)正框可更換，多種尺寸兼容 提供8位及16位的測試治具 測試座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530 座頭材料： AL，Cu，POM 探針類型： 彈簧探針/導(dǎo)電膠 工作溫度： -45 ~ 125度 探針壽命： 30萬次 彈簧彈力： 20g ~ 30g per Pin 電流： 1A （ 電阻： 50mΩ 頻寬： > 3.6GHZ @-1db DDR內(nèi)存條測試座 適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測試 用于芯片的快速篩選，驗證，測試， 采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效. 測試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可 可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu) 探針可更換，維修方便，成本低 DDR內(nèi)存條測試座 適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測試 用于芯片的快速篩選，驗證，測試， 采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效. 測試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可 可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu) 探針可更換，維修方便，成本低
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