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DDR4-16位內(nèi)存條測試座，導電膠結(jié)構(gòu)

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更新時間：2023-05-18 17:09:27瀏覽次數(shù)：571次

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產(chǎn)品簡介

DDR4-16位內(nèi)存條測試座，導電膠結(jié)構(gòu)DDR內(nèi)存條測試座適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測試用于芯片的快速篩選，驗證，測試，采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便高效.測試不同尺寸的顆粒，更換限位框即可可選探針和導電膠結(jié)構(gòu)探針可更換，維修方便，成本低

詳細介紹

適用于DDR3 DDR4 DDR5

用于芯片的快速驗證，測試.

適用于手測

有探針和導電膠2種導電結(jié)構(gòu)選擇

導正框可更換，多種尺寸兼容

提供8位及16位的測試治具

測試座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

座頭材料： AL，Cu，POM

探針類型：彈簧探針/導電膠

工作溫度： -45 ~ 125度

探針壽命： 30萬次