安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： CMI760(PCB銅厚測(cè)試儀)牛津儀器CMI760測(cè)厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào)：CMI760所在地：上海市更新時(shí)間：2024-05-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 牛津儀器CMI563表面銅厚測(cè)量儀專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào)：CMI563所在地：上海市更新時(shí)間：2024-04-29 在線留言
詳細(xì)摘要： CMI730能同時(shí)為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導(dǎo)性基材上的非導(dǎo)性涂/鍍層以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測(cè)。
產(chǎn)品型號(hào)：CMI730所在地：上海市更新時(shí)間：2024-04-27 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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