合肥廣測(cè)產(chǎn)品檢測(cè)研究所有限公司
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詳細(xì)摘要： 芯片靜電ESD測(cè)試是半導(dǎo)體產(chǎn)品先期質(zhì)量驗(yàn)證的重要關(guān)鍵指針，避免芯片在生產(chǎn)或使用過程中被靜電放電所損傷,靜電放電防護(hù)電路,ESD耐壓能力,靜電防護(hù)能力測(cè)試芯片靜電...
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詳細(xì)摘要： 快速又準(zhǔn)確的進(jìn)行芯片失效定位與分析：EFA（電性失效分析）,PFA（物性失效分析）,DEFA(動(dòng)態(tài)失效分析),工藝篩片分析(DPA)面對(duì)數(shù)種失效模式，廣測(cè)檢測(cè)的...
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詳細(xì)摘要： 提供完整的半導(dǎo)體產(chǎn)品芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目，協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國(guó)際試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)提供完整的半導(dǎo)體產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目，包含技術(shù)整合咨...
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詳細(xì)摘要： 廣測(cè)作為的測(cè)試、檢驗(yàn)和分析機(jī)構(gòu)，在全國(guó)擁有配置齊全的物理與化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室，能夠?yàn)檎麄€(gè)IC制造產(chǎn)業(yè)鏈的質(zhì)量控制提供可靠與穩(wěn)健的測(cè)試分析解決方案。廣測(cè)半導(dǎo)體可靠度實(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-08-30 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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