分立器件測試儀設(shè)備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準確可靠。

詳細介紹

分立器件測試儀

分立器件測試儀產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結(jié)構(gòu)，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過 Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠應對“來料檢驗"“失效分析"“選型配對"“量產(chǎn)測試"等不同場景。

產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具"讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為 EXCEL 文本。

分立器件測試儀應用場景

? 測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試）

? 失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）

? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）

? 來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

? 量產(chǎn)測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）

分立器件測試儀產(chǎn)品特點

(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件；

(2) PC 機為系統(tǒng)的主控機；

(3) 基于 Lab VIEW 平臺開發(fā)的填充式菜單軟件界面；

(4) 自動識別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采樣速率；

(6) 程控高壓源 10~1400V，提供 2KV 選配；

(7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 選配；

(8) 驅(qū)動電壓 10mV~40V；

(9) 控制極電流 10uA~10mA；

(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準確；

(11) 通過 RS232 接口連接校準數(shù)字表，對系統(tǒng)進行校驗；

(12) Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）

(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器

(14) 連接分選機測試量為每小時 1 萬個

(15) 可以測試結(jié)電容，諸如 Cka，Ciss，Crss，Coss；

(16) 脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；

分立器件測試儀產(chǎn)品信息及規(guī)格

產(chǎn)品型號：HUSTEC-DC-2010

產(chǎn)品名稱：半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)

主機尺寸：長660*寬430*高210(mm)

主機重量：＜35kg

主機功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過 4000m；

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續(xù)；

分立器件測試儀

分立器件測試儀測試范圍

01. Diode / 二極管（穩(wěn)壓、瞬態(tài)、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋）

02. BJT / 三極管

03. Mosfet & JFET / 場效應管

04. SCR / 可控硅（單向/雙向）

05. IGBT / 絕緣柵雙極大功率晶體管

06. OC / 光耦

07. Relay / 繼電器

08. Darlington tube / 達林頓陣列

09. Current sensor/電流傳感器

10. 基準IC(TL431)

11. 電壓復位IC

12. 穩(wěn)壓器（三端/四端）

13. 三端開關(guān)功率驅(qū)動器

14. 七端半橋驅(qū)動器

15. 高邊功率開關(guān)

16. 電壓保護器（單組/雙組）

17. 開關(guān)穩(wěn)壓集成器

18. 壓敏電阻

19.電壓監(jiān)控器

分立器件測試儀應用場景

1、測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）

4、來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產(chǎn)測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)?；⒆詣踊瘻y試）

6、替代進口（半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)可替代同級別進口產(chǎn)品）

分立器件測試儀

分立器件測試儀性能指標

分立器件測試儀

分立器件測試儀測試參數(shù)

(1) 二極管類：二極管 Diode

Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（選配）；

(2) 二極管類：穩(wěn)壓二極管 ZD（Zener Diode）

Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka；

(3) 二極管類：穩(wěn)壓二極管 ZD（Zener Diode）

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；

(4) 二極管類：三端肖特基二極管 SBD（SchottkyBarrierDiode）

Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（選配）；

(5) 二極管類：瞬態(tài)二極管 TVS

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；

(6) 二極管類：整流橋堆

Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；

(7) 二極管類：三相整流橋堆

Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；

(8) 三極管類：三極管

Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （選配）、Ts （選配）、Value_process；

(9) 三極管類：雙向可控硅

Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；

(10)三極管類：單向可控硅

Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm；

(11)三極管類：MOSFET

Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；

(12)三極管類：雙 MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss；