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廣州貝拓科學技術有限公司

  • WITec alpha300 A 原子力顯微鏡

    WITec alpha300 A 原子力顯微鏡通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區(qū)域來進行 AFM 測...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 15:12:09 對比

  • 高速共聚焦成像儀

    高速共聚焦成像儀高靈敏共聚焦成像，其采集速度比普通點掃描共聚焦技術快至20倍。另外采用高分辨，高靈敏的探測器，有效減少活細胞成像的光毒性及光漂白，同時也適合于固...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 15:10:47 對比

  • WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡

    WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡采用*設備的中空懸臂式近場探針實現(xiàn)超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統(tǒng)也具備*的兼容性和擴展性...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 15:09:44 對比

  • 薄膜厚度測量儀Delta

    薄膜厚度測量儀DeltaDelta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收...
    型號： Delta 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 15:04:31 對比

  • 薄膜厚度測定儀

    薄膜厚度測定儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干...
    型號： Delta 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 14:58:51 對比

  • 薄膜厚度檢測儀

    薄膜厚度檢測儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干...
    型號： Delta 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 14:57:43 對比

  • Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)

    Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據...
    型號： Delta 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 14:56:17 對比

  • 動態(tài)接觸角測量儀

    動態(tài)接觸角測量儀DSA-X儀器機構結合了人體工程學，提供人性化的自動化進樣調節(jié)、樣品臺調節(jié)、光學系統(tǒng)調節(jié)等，使測試變得準確而快速高效。
    型號： DSA-X 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 14:53:24 對比

  • KF100界面張力測量儀

    KF100界面張力測量儀功能多樣，可以全自動測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴展模塊來拓展儀器的應用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性，大大提高了其使...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/8/25 14:49:36 對比
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