上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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詳細(xì)摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺(tái)。Sigma500...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-04-01 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司 Gemini SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測(cè)系統(tǒng)、的分辨率以及簡(jiǎn)便的操作方式。...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-03-29 在線留言
詳細(xì)摘要： Talos™ 是新一代 TEM 產(chǎn)品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數(shù)據(jù)，從而專注于研究發(fā)現(xiàn)。Talos 的配置適合開展材料研究和生命科學(xué)研究，是一...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-02-11 在線留言
詳細(xì)摘要： 自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優(yōu)異的產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-02-10 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Talos F200系列 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線光譜儀 ...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-21 在線留言
詳細(xì)摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺(tái)，設(shè)計(jì)用來觀測(cè)功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對(duì)氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動(dòng)泵...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-20 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-25 在線留言
詳細(xì)摘要： PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-25 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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