SE-L光譜橢偏儀

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產品型號SE-L

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更新時間：2022-12-27 21:15:43瀏覽次數(shù)：397次

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杭州華盼科技有限公司

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產品簡介

簡要描述：SE-L 是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術，配置全自動測量模塊。

詳細介紹

概述

SE-L 是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術，配置全自動測量模塊。通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結構的表征分析。

。高精度自動測量光學橢偏測量解決方案
。全自動變角、調焦等控制平臺，一鍵快速測量
。軟件交互式界面配合輔助向導式設計，易上手、操作便捷
。豐富的數(shù)據庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據分析能力

產品特點

采用氘燈和鹵素燈復合光源，光譜覆蓋紫外到近紅外范圍 (193-2500nm)；

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高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據高速采集；

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全自動橢偏測量技術，基于行業(yè)電機控制技術，全自動調整測量角度，高精度控制樣件臺，實現(xiàn)樣件快速自動對準找焦；
微信截圖_20180924221350.png

頤光技術確保在寬光譜范圍內，提供優(yōu)質穩(wěn)定的各波段光譜；

數(shù)百種材料數(shù)據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

庫.png

產品應用

半導體薄膜結構：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等；

平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等；
光伏太陽能：光伏材料（如Si3N4、Sb2Se3、Sb2S3、CdS等）反射率，消光系數(shù)測量，膜層厚度及表面粗糙度測量等；
功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等；
生物和化學工程：有機薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理等；
塊狀材料分析：固體（金屬、半導體、介質等）或液體（純凈物或混合物）的折射率n和消光系數(shù)k表征，玻璃新品研發(fā)和質量控制等。

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